[发明专利]磁场检测用天线及使用该天线的检验标签检测用门无效
| 申请号： | 200480020810.8 | 申请日： | 2004-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN1826537A | 公开（公告）日： | 2006-08-30 |
| 发明（设计）人： | 松井邦彦;鸙野俊寿;诸谷彻郎;大石裕史 | 申请（专利权）人： | 琳得科株式会社;CDN株式会社 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据本发明，公示出一种磁场检测用天线、磁场检测器及检验标签检测用门，该磁场检测用天线串联连接多个相互按反方向所卷绕的环形天线并且配置于平面内，该磁场检测器由多个上述磁场检测用天线和用来取出它们的差分输出的输出电路构成，该检验标签检测用门由上述磁场检测器和磁场发生线圈构成。 | ||
| 搜索关键词： | 磁场 检测 天线 使用 检验 标签 | ||
【主权项】：
1.一种磁场检测用天线，其特征为：串联连接多个相互按反方向所卷绕的环形天线，并且配置于平面内。
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