[发明专利]用于离子迁移率和离子阱质谱分析的单一装置有效
| 申请号： | 200480021465.X | 申请日： | 2004-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN1829911A | 公开（公告）日： | 2006-09-06 |
| 发明（设计）人： | 埃德加·D·莉;艾伦·L·罗克伍德;米尔顿·L·利;塞缪尔·E·托利 | 申请（专利权）人： | 杨百翰大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;H01J49/40 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一组电极，其中在不同的时段向该组电极施加不同的电势，从而在离子样品上执行基于离子迁移率的光谱分析和质谱分析(MS)，通过以任意次序执行任意次数的基于离子迁移率的光谱分析和质谱分析来处理离子，并且作为单独的或重叠的步骤执行，从而捕捉，分离和分析带电粒子和源于原子，分子，粒子，亚原子粒子和离子的带电粒子。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 离子迁移率 离子 谱分析 单一 装置 | ||
【主权项】：
1.一种依据带电粒子和源于原子，分子，粒子，亚原子粒子和离子的带电粒子的离子迁移率和质荷比，使用单一装置来分离离子的方法，所述方法包括下列步骤：(1)在单一装置中提供基于离子迁移率和质谱分析系统，包括至少两个电极，这两个电极通过被布置以便在它们之间产生电场；以及(2)依据离子的离子迁移率，电荷，大小，质量和横截面积来分离离子。
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