[发明专利]带有检验标准规的粗糙度测量装置有效

专利信息
申请号: 200480021540.2 申请日: 2004-07-12
公开(公告)号: CN1829896A 公开(公告)日: 2006-09-06
发明(设计)人: J·特尔策尔;R·维利希 申请(专利权)人: 卡尔·马尔控股有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28;G01B7/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 苏娟;胡强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 根据本发明的粗糙度测量装置(1)具有一个用于进给机构(3)的容纳机构(2),该进给机构用于牵引一个粗糙度测量规(4)通过一个工件表面。容纳机构(2)在粗糙度测量规(4)的作用距离内支承一个带有一个检验面(25)的检验标准规(24)。检验标准规(24)优选在一个凹槽中固定地布置在容纳机构(2)上,其中该凹槽在一个用于容纳进给机构(3)的孔的壁中形成。检验标准规的检验面(25)由此在容纳机构(2)内被保护以防止污染和损伤,不过在此仍然布置成易于接近的。
搜索关键词: 带有 检验 标准规 粗糙 测量 装置
【主权项】:
1.粗糙度测量装置(1),带有一个粗糙度测量规(4),该粗糙度测量规具有一个用于扫描工件表面的探针(19)和一个转换器,该转换器与探针(19)相连并将探针的运动转化为电信号,带有一个进给机构(3),装备它以使粗糙度测量规(19)沿着一个在工件表面上的路径运动,带有一个容纳机构(2),它具有一个用于可调整地容纳进给机构(3)的孔(9),以及带有一个检验标准规(24),它布置在容纳机构(2)上。
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