[发明专利]半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200480022204.X 申请日: 2004-12-21
公开(公告)号: CN1830081A 公开(公告)日: 2006-09-06
发明(设计)人: 定别当裕康 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/16
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体器件包括基板(1),和形成在基板(1)上的半导体结构体(2)。半导体结构体具有半导体衬底(4)和形成在半导体衬底(4)上的多个外部连接电极(5、12)。绝缘层(14)围绕着半导体结构体(2)形成在基板(1)上。硬板(15)形成在绝缘层(14)上。互连(19)连接到半导体结构体(2)的外部连接电极(5、12)。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体器件,包括:基板(1);半导体结构体(2),形成在该基板(1)上,并且具有半导体衬底(4)和形成在该半导体衬底(4)上的多个外部连接电极(5、12);绝缘层(14),形成在该基板(1)上围绕着该半导体结构体(2);硬板(15),形成在该绝缘层(14)上;以及互连(19),连接到该半导体结构体(2)的外部连接电极(5、12)。
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