[发明专利]利用黄金抽样的测试器和测试板的校准无效

专利信息
申请号: 200480023112.3 申请日: 2004-08-14
公开(公告)号: CN1836170A 公开(公告)日: 2006-09-20
发明(设计)人: H·维塞;S·斯帕恩 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R35/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘红;陈景峻
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 在自动测试设备(ATE)上执行测试中,精确地产生和测量RF(射频)功率是一个挑战。在示例的实施例中,在被用来测量放大器(140)的输入和输出特性的测试设备(100)中,具有用于确定测试程序参数的方法。该方法(200)包括计算从测试设备电源到放大器(220)的输入的输入损耗,定义输入损耗校正因子。计算从放大器输出(220)到测试设备的功率计的输出损耗,定义输出损耗校正因子。使用输入损耗校正因子(230),确定实际的输入功率电平,并且使用输出损耗校正因子(230),确定实际的输出电平。
搜索关键词: 利用 黄金 抽样 测试 校准
【主权项】:
1.在用于测量放大器的输入和输出特性的测试设备(100)中,一种用于确定测试程序参数的方法(200),包括:计算从测试设备电源(125)到放大器的输入端的输入损耗(220),定义输入损耗校正因子;计算从放大器输出端到测试设备的功率计(135)的输出损耗(220),定义输出损耗校正因子;使用输入损耗校正因子,确定(220)实际的输入功率电平(105);和使用输出损耗校正因子,确定(220)实际的输出电平(115)。
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