[发明专利]多反射飞行时间质谱仪及使用方法有效
| 申请号： | 200480023268.1 | 申请日： | 2004-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN1853255A | 公开（公告）日： | 2006-10-25 |
| 发明（设计）人： | 阿纳托利·N.·维雷恩特奇科夫;米克海尔·雅沃尔;乔尔·C.·米切尔;维特彻斯拉夫·阿塔伊夫 | 申请（专利权）人： | 莱克公司 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蒋世迅 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种多反射飞行时间质谱仪(MR－TOFMS)及分析方法。离子的飞行路径通过静电反射镜沿一条轨迹折叠。较长的飞行路径具有较高的分辨率同时能够保持一个中等的仪器尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 飞行 时间 质谱仪 使用方法 | ||
【主权项】：
1.一种多反射飞行时间质谱仪(MR-TOF MS)包括：一个脉冲离子源；一个离子接收器；一组两个平行的无栅离子反射镜，在位移方向充分延长；所述反射镜之间的一个漂移空间；以上元件被排列用于在离子源与接收器之间提供一个折叠的离子路径，由离子反射镜之间的多次反射以及位移方向的位移组成；所述MR-TOF MS根据其质量电荷比及时分离离子，使得飞行时间与离子能量完全无关；其中为了提高分辨率和灵敏度，一组2个或更多透镜沿所述位移方向位于所述漂移空间，在位移方向的周期对应于每整数次离子反射的离子位移。
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