[发明专利]用于测试和微调集成电路(开关控制电路)的电路无效
| 申请号： | 200480023789.7 | 申请日： | 2004-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN1839545A | 公开（公告）日： | 2006-09-27 |
| 发明（设计）人： | P·S·吴;K·K·叶;J·孙 | 申请（专利权）人： | 爱特梅尔股份有限公司 |
| 主分类号： | H03K3/037 | 分类号： | H03K3/037;H03K17/62 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沈昭坤 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于集成电路的测试和微调节的开关控制电路，它包括一系列以串联方式链接在一起的触发器(30，32，...，34)。触发器的内容可以从链中的第一个触发器(30)的输入(38)移进。各个触发器的输出分别连接到单独的晶体管开关(F1，F2，...，Fn)，使得触发器的状态可以控制开关的状态。可提供用于建立开关的预置状态的电路(50，52，...，54)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 微调 集成电路 开关 控制电路 电路 | ||
【主权项】：
1.一种用于微调电压输出的电路，包括：一组电阻器，以并联的方式连接于所述电压输出，各个电阻器通过开关晶体管连接到接地点；以及，一组触发器，连接于所述开关晶体管的栅极，其中，各个所述开关晶体管的状态可由一相应触发器中的状态来建立，其中可根据所述触发器中的状态将一个或多个电阻器连接到接地点。
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