[发明专利]校准比较器电路有效
| 申请号： | 200480025335.3 | 申请日： | 2004-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN1846141A | 公开（公告）日： | 2006-10-11 |
| 发明（设计）人： | 梅村芳春;冈安俊幸;淡路利明;山川雅裕 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李芳华;邸万奎 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种用于对装置测试的测试设备，包括：定时发生器，用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号；多个定时延迟部件，用于延迟所述定时信号；多个驱动器，用于施加所述测试信号；采样器，用于对所述测试信号进行采样，以输出采样电压；比较器，用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果；确定部件，用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致；和定时校准部件，用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间，从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 比较 电路 | ||
【主权项】：
1.一种比较器电路，用于比较测量信号和参考电压并输出比较结果，所述比较器电路包括：采样器，用于在预定定时处对所述测量信号进行采样，并输出所述测量信号的采样电压；和比较器，用于比较所述采样电压和所述参考电压，并输出指明所述采样电压是否高于所述参考电压的所述比较结果。
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