[发明专利]介质速度的检测无效
| 申请号： | 200480026272.3 | 申请日： | 2004-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN1849658A | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | D·M·汉克斯;A·范布洛克林 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | G11B19/28 | 分类号： | G11B19/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;魏军 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 使用电磁辐射来控制介质(4)对电磁辐射的曝光。介质(4)被旋转(38)。检测从介质(4)的边缘(24，26)辐射的电磁辐射的频率。应用检测到的频率控制介质(4)对电磁辐射的曝光。 | ||
| 搜索关键词： | 介质 速度 检测 | ||
【主权项】：
1.一种应用电磁辐射来控制介质(4)对电磁辐射的曝光的方法，该方法包括：旋转(38)介质(4)；检测(42)从介质(4)的边缘(24，26)辐射的电磁辐射的频率；以及利用检测到的频率控制(44)介质(4)对电磁辐射的曝光。
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