[发明专利]产生极紫外辐射或软X射线辐射的方法和设备有效

专利信息
申请号: 200480026283.1 申请日: 2004-09-01
公开(公告)号: CN1849850A 公开(公告)日: 2006-10-18
发明(设计)人: J·约恩克尔斯;D·M·沃德雷范格;W·内夫 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司;弗劳恩霍弗实用研究促进协会
主分类号: H05G2/00 分类号: H05G2/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;梁永
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种通过电气操纵放电而产生极紫外辐射(EUV)或软X射线辐射的方法,其尤其用于EUV光刻或度量,其中在放电空间(12)内的至少两个电极(14、16)之间的气体介质内点燃等离子体(22),所述等离子体发射待产生的所述辐射。从金属熔融物质(24)产生该气体介质,该金属熔融物质被涂敷到所述放电空间(12)内的表面,且该金属熔融物质至少部分地被能量束、特别是激光束(20)蒸发。
搜索关键词: 产生 紫外 辐射 射线 方法 设备
【主权项】:
1.一种通过电气操纵的放电而产生极紫外辐射(EUV)或软X射线辐射的方法,其尤其用于EUV光刻或度量,其中在放电空间(12)内的至少两个电极(14、16)之间的气体介质内点燃等离子体(22),所述等离子体发射待产生的所述辐射,其中从金属熔融物质(24)产生所述气体介质,该金属熔融物质被涂敷到所述放电空间(12)内的表面,并通过能量束、特别是激光束(20)至少部分地被蒸发。
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