[发明专利]检查方法、半导体器件和显示装置

摘要

有可能有效地检查液晶显示装置中的数据线和栅极线的线故障。根据液晶显示装置的半导体衬底的线布局结构配置用于检查的逻辑电路。此逻辑电路的输入端连接到数据线的端部。在执行检查时，将对应于预定逻辑值的检查驱动信号施加到数据线，并且在此获得的逻辑电路的输出用来判断数据线的故障。这意味着能够用从逻辑电路输出的逻辑值即二进制值的状态来判断数据线的故障。此外，这种结构适于栅极线。

主权项

1.一种用于半导体衬底的测试方法，其中像素单元驱动电路各包括像素开关和连接到所述像素开关并保持像素数据的像素电容器，所述像素单元驱动电路配置在矩阵中，对应于数据线和像素开关控制线之间的交叉点，所述方法包括：测试驱动步骤，根据所述半导体衬底上的互连布局结构和/或测试项目，选择两条或更多条所述数据线或者两条或更多条所述像素开关控制线，并向每一选择的数据线或者每一选择的像素开关控制线施加测试驱动信号，所述测试驱动信号的电平对应于所需逻辑值，所述电平根据在逻辑运算步骤中执行的逻辑运算的运算表达式设置；以及逻辑运算步骤，作为逻辑值输入出现在选择的两条或更多条数据线中的每一条或者选择的两条或更多条像素开关控制线中的每一条中的电位输出，并按照根据所述布局结构和/或所述测试项目确定的运算表达式执行逻辑运算。