[发明专利]用于优化电子电路的测试和配置吞吐量的系统和方法

摘要

一种用于使在电子电路和系统的制造过程中的测试和配置的吞吐量最大化的系统和方法。该系统采用具有灵活的并行测试结构的测试器(302)，所述灵活的并行测试结构具有可以容纳所选数量的在测单元或UUT(304.1、304.2、304.n)的可扩展资源。可将并行测试结构配置成接受UUT的分组或分区，由此使得系统能够获得最优或最大可实现的UUT的测试和配置的吞吐量。该系统通过计算出将要进行并行测试/配置的UUT的期望数量N来确定最优或最大可实现的吞吐量。并行测试或配置该期望数量的UUT允许使处理时间与测试和配置时间平衡，由此获得最大可实现的吞吐量。

主权项

1、一种用于测试或可编程配置多个电子电路的系统，包括：第一子系统，其包括第一测试总线，和耦合到所述第一总线并且可耦合到多个第一电子电路的多个第一可寻址测试控制器，所述第一电路分别经由所述第一可寻址控制器可通信地可耦合到第一总线；第二子系统，其包括第二测试总线，和耦合到所述第二总线并且可耦合到多个第二电子电路的多个第二可寻址测试控制器，所述第二电路分别经由所述第二可寻址控制器可通信地可耦合到第二总线；电子电路处理设备，被配置成分别将所述第一和第二电路装载到与所述第一和第二子系统相对应的第一和第二组的测试夹具中，并且从所述第一和第二组的测试夹具中卸载所述第一和第二电路；以及测试控制器，分别通过所述第一和第二总线耦合到所述第一和第二子系统，该测试控制器可用于分别经由所述第一和第二子系统将输入数据提供给所述第一和第二电路，并且分别经由所述第一和第二子系统从所述第一和第二电路中接收输出数据，用于测试或配置所述电路，其中该测试控制器用于测试或配置与所述第一和第二子系统中的一个相对应的电路，同时所述处理设备卸载和装载与所述第一和第二子系统中的另一个相对应的电路，并且其中测试或配置所述电路所需的时间基本上等于卸载和装载所述电路所需的时间。