[发明专利]对于透射的空间外差干涉测量法(SHIFT)测量无效

专利信息
申请号: 200480027757.4 申请日: 2004-08-26
公开(公告)号: CN1856747A 公开(公告)日: 2006-11-01
发明(设计)人: 格里高利·R.·汉森;菲利普·R.·宾汉;肯·W.·托宾 申请(专利权)人: UT-巴特勒有限责任公司
主分类号: G03H1/08 分类号: G03H1/08;G01B9/021
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李春晖
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 描述了用于对于透射的空间外差干涉测量法(SHIFT)测量的系统和方法。方法包括通过使用参考光束和被穿过至少部分半透明的物体(630,730)的物体光束数字记录包括用于傅利叶分析的空间外差条纹的空间外差全息图;通过移位数字记录的空间外差的全息图的原始的原点,以放置在由在参考光束与物体光束之间的角度定义的空间外差载波频率的顶点而傅利叶分析数字记录的空间外差全息图,以定义分析的图像;数字滤波分析的图像,以截止原始原点周围的信号,以定义结果;以及对结果执行逆傅利叶变换。
搜索关键词: 对于 透射 空间 外差 干涉 测量 shift
【主权项】:
1.一种方法,包括:通过使用参考光束和物体光束数字记录包括用于傅利叶分析的空间外差条纹的空间外差全息图;通过移位所述数字记录的空间外差全息图的原始的原点,以放置在由在参考光束与物体光束之间的角度定义的空间外差载波频率的顶点而傅利叶分析所述数字记录的空间外差全息图,以定义分析的图像;数字滤波分析的图像,以截止原始原点周围的信号,以定义结果;以及对所述结果执行逆傅利叶变换,其中物体光束透射至少是部分半透明的物体(630,730)。
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