[发明专利]采集开关设备中触点烧损的装置无效
| 申请号： | 200480028215.9 | 申请日： | 2004-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1860570A | 公开（公告）日： | 2006-11-08 |
| 发明（设计）人： | 伯恩德·亚当;迈克尔·哈恩 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | H01H1/00 | 分类号： | H01H1/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;李晓舒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于采集电开关设备(S)的开关触点(K1，K1’)上的触点烧损的装置，其中触点烧损在开关设备(S)的至少一对断开和闭合的开关触点(K1，K1’)上引起。该装置包括光波导体(LWL)和检测器(D)，其中由至少一个光源(Q)发出的光耦合到该光波导体(LWL)中，并由该光波导体(LWL)传输至检测器(D)。在此光波导体(LWL)关于至少一对开关触点(K1，K1’)这样设置，使得由检测器(D)测量的耦合到光波导体(LWL)中的光的强度随着由触点烧损产生的电开关设备(S)中的触点烧损微粒的数量增加而减小。 | ||
| 搜索关键词： | 采集 开关设备 触点 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于采集电开关设备(S)的开关触点(K1，K1’)上的触点烧损的装置，其中触点烧损在开关设备(S)的至少一对断开和闭合的开关触点(K1，K1’)上引起，该装置包括至少一个光波导体(LWL)和至少一个检测器(D)，其中由至少一个光源(Q)发出的光耦合到该至少一个光波导体(LWL)中，并由该光波导体(LWL)传递至该至少一个检测器(D)，其特征在于，所述至少一个光波导体(LWL)关于至少一对开关触点(K1，K1’)这样设置，使得由至少一个检测器(D)测量的耦合到该光波导体(LWL)中的光的强度随着由触点烧损产生的电开关设备(S)中的触点烧损微粒的数量增加而减小。
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