[发明专利]检验纸片切割质量的测量设备和测量方法无效

专利信息
申请号: 200480028592.2 申请日: 2004-09-22
公开(公告)号: CN1860346A 公开(公告)日: 2006-11-08
发明(设计)人: O·贝泽;L·林 申请(专利权)人: E.C.H.威尔股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01N21/86;G03G15/00;G03B27/62
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 原绍辉;谭祐祥
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及检验纸片切割质量的测量设备以及检验纸片切割质量的测量方法,它们使切割质量得到可靠的检验。为了实现它,测量设备配备有用于接纳纸片(4)和纸片阻挡件(1)的透明扫描支撑件(3)、包括扫描窗(14)的扫描单元(15)、以及用于覆盖由扫描支撑件(3)托住的纸片(4)的盖罩(21)。扫描窗(14)覆盖纸片(4),并延伸到纸片(4)之外以形成边界区域(10,11,12,13)。盖罩(21)具有与纸片(4)不同的反射特性,以便产生纸片(4)和在纸片(4)与扫描窗(14)之间的边界区域(10,11,12,13)的高对比度扫描图像。根据所述方法,纸片(4)借助于阻挡件(1)而位于透明扫描支撑件(3)上,由盖罩(21)覆盖且由扫描单元(15)扫描,扫描单元(15)在扫描窗(14)附近扫描,扫描窗(14)覆盖纸片(4)和包围纸片(4)的边界区域(10,11,12,13)。然后记录下纸片(4)和边界区域(10,11,12,13)之间的对比度的差别。
搜索关键词: 检验 纸片 切割 质量 测量 设备 测量方法
【主权项】:
1.一种检验纸片(4)的切割质量的测量设备,具有用于托住纸片(4)的透明的扫描基板(3)、具有扫描窗(14)的扫描设备(15)和用于覆盖由扫描基板(3)托住的纸片(4)的盖罩(21),所述扫描基板(3)包括用于纸片的阻挡件(1);其中,所述扫描窗(14)叠盖住纸片(4),形成边缘表面(10,11,12,13);所述盖罩(21)具有与纸片(4)不同的反射性质,以产生纸片(4)和在纸片(4)与扫描窗(14)之间的边缘表面(10,11,12,13)的高对比度扫描图像。
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