[发明专利]用于确定相位信号的质量量度的方法和电路装置有效
| 申请号： | 200480028612.6 | 申请日： | 2004-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN1860347A | 公开（公告）日： | 2006-11-08 |
| 发明（设计）人： | A·温茨勒尔 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01D3/08 | 分类号： | G01D3/08;G01D1/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;张志醒 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 建议了用于分析相位信号以便确定线性或旋转运动的部件的角度或位移的方法和电路装置，在该方法中分析多个(N)相位测量值(α)，这些相位测量值(α)通过借助分别所分配的传感器来扫描在线性或旋转运动的部件上的至少一个相位传感器装置而生成。通过以下方式来实现质量量度(R)的确定，即在利用矩阵(M1)对所述相位测量值(α)进行变换之后生成矢量(T)，并且紧接着生成关于该矢量(T)的量化运算(V)的结果。由该矢量(T)和量化运算(V)的结果之差(t)在利用另一个矩阵(M4)进行变换之后生成另一个矢量(X)，该另一个矢量(X)的分量(xj)被施加系数(Cj)和(Dj)并且从中推导出质量量度(R)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 相位 信号 质量 量度 方法 电路 装置 | ||
【主权项】：
1.用于分析相位信号以便确定线性或旋转运动的部件的角度或位移的方法，其中，-分析多个(N)相位测量值(α)，这些相位测量值(α)通过借助分别所分配的传感器来扫描在所述线性或旋转运动的部件上的至少一个相位传感器装置而生成，并且其中-将所述相位测量值(α)借助线性变换通过计算变换到新的范围内，其特征在于，-通过以下方式来实现质量量度(R)的确定，即在利用矩阵(M1)对所述相位测量值(α)进行变换之后生成矢量(T)，并且紧接着生成关于所述矢量(T)的量化运算(V)的结果，-由所述矢量(T)和所述量化运算(V)的结果之差(t)在利用另一个矩阵(M4)进行变换之后生成另一个矢量(X)，并且-由所述另一个矢量(X)的分量(xj)形成数值上的最小值，并且从中推导出所述质量量度(R)。
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