[发明专利]用于测试电致发光显示器的设备无效
申请号: | 200480028795.1 | 申请日: | 2004-09-21 |
公开(公告)号: | CN1891015A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | 阿部寿;德里克·卢克 | 申请(专利权)人: | 伊菲雷技术公司;三洋电机株式会社 |
主分类号: | H05B33/12 | 分类号: | H05B33/12;G09G3/30 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陆锦华;穆德骏 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | 提供了一种用于提高电致发光显示器(ELD)的易测试性的设备,引入至少两组电极,一组用于连接像素的行,以及第二组用于连接像素的列,其中至少一个电极组被分隔为两个子集。第一子集具有第一长度的电极延伸部分,第二子集具有第二长度的电极延伸部分,第二长度更短。第一连接器通常布置在垂直于两个子集的电极延伸部分的方向上并与第二子集的电极延伸部分电接触。第二连接器通常布置在垂直于第一子集的电极延伸部分的方向上以及仅仅与第一子集的电极延伸部分电接触。一组绝缘片将第一子集的电极延伸部分与第一连接器分开。本发明的设备限制测试设备的连接/断开过程中的过电压。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 电致发光 显示器 设备 | ||
【主权项】:
1.一种电致发光显示器(ELD),包括:基板,按行和列布置的、形成在所述基板上的像素矩阵,至少两组电极,第一组用于连接像素的行,以及第二组用于连接像素的列,其中所述第一和第二电极组的至少一组被分隔为第一子集和第二子集,第一子集具有第一长度的电极延伸部分,第二子集具有第二长度的电极延伸部分,第二长度更短,第一连接器,通常在垂直于所述子集的电极延伸部分的方向上延伸,并与所述第二子集的电极延伸部分电接触,第二连接器,通常在垂直于所述第一子集的电极延伸部分的方向上延伸,以及仅仅与所述第一子集的电极延伸部分电接触,以及一组绝缘片,用于将所述第一子集的所述电极延伸部分与所述第一连接器电分开。
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