[发明专利]测试程式除错装置及半导体测试装置及测试程式除错方法及测试方法无效
| 申请号： | 200480028876.1 | 申请日： | 2004-10-05 |
| 公开（公告）号： | CN1864143A | 公开（公告）日： | 2006-11-15 |
| 发明（设计）人： | 堀光男;多田秀树;片冈孝浩;关口宏之;梦川一男 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种测试程式除错装置、半导体测试装置、测试程式除错方法及测试方法。本发明的测试程式除错装置包括：被测试元件模拟设备及半导体测试装置模拟设备。半导体测试装置模拟设备具有验证范围获取部、指令简单化部与指令执行部。验证范围获取部是用于获取测试程式中应验证的指令的范围，亦即验证范围。指令简单化部是将设定指令以外的非设定指令加以简化，其中设定指令是用来对测试程式中的验证范围以外的范围(即非验证范围)中所包含的非验证范围的指令，进行被测试元件模拟设备的设定。指令执行部是用于执行验证范围中所包含的验证范围指令、设定指令以及被指令简单化部所简化的非设定指令。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 程式 除错 装置 半导体 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试程式除错装置，为对用于一半导体测试装置的一测试程式进行除错的测试程式除错装置，包括：一被测试元件模拟设备，用以模拟一被测试元件；以及一半导体测试装置模拟设备，执行该测试程式并模拟该半导体测试装置，且向该被测试元件模拟设备供给一测试图案，包括：一验证范围获取部，用于获取该测试程式中验证的指令的范围，即一验证范围；一指令简单化部，使该测试程式中的该验证范围以外的范围即一非验证范围中所包含的一非验证范围指令中，用于进行该被测试元件模拟设备的设定的一设定指令以外的一非设定指令简单化；以及一指令执行部，用于执行该验证范围中所包含的一验证范围指令，该设定指令及利用该指令简单化部被简单化的该非设定指令。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱德万测试株式会社，未经爱德万测试株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200480028876.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
