[发明专利]有序波形纳米结构形成方法(多个方案)有效
申请号: | 200480029327.6 | 申请日: | 2004-10-08 |
公开(公告)号: | CN1894157A | 公开(公告)日: | 2007-01-10 |
发明(设计)人: | V·K·斯米尔诺夫;D·S·吉巴洛夫 | 申请(专利权)人: | 沃斯泰克公司 |
主分类号: | B82B3/00 | 分类号: | B82B3/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 孙爱 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于形成有序波形纳米结构的方法,该方法在于:用均匀分子氮离子N2+流溅射半导体材料,直到在材料表面形成所述纳米结构的波峰方向垂直于离子入射平面的周期性波形纳米结构;为了增长纳米结构波幅,用O2+离子流在与N2+轰击平面相重合的轰击平面进行补充溅射;选择O2+离子轰击能量及角度以便使在用N2+和O2+单独照射时形成的波形纳米结构的波长相重合。对砷化物、镓和硅结构还提出了3个形成有序波形纳米结构的变体。 | ||
搜索关键词: | 有序 波形 纳米 结构 形成 方法 方案 | ||
【主权项】:
1、形成有序波形纳米结构的方法,其包含用均匀分子氮离子N2+流溅射半导体材料,直到在材料表面形成波峰方向垂直于离子入射平面的周期性波形纳米结构,该方法的特征在于:使用砷化镓作为半导体材料,在用氮离子N2+溅射后用氧离子O2+流对已形成的波形纳米结构进行补充溅射,同时,氧离子入射平面与氮离子入射平面相重合,并选择离子入射的能量和角度以便使在用氮和氧离子单独照射时波形纳米结构的波长重合。
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