[发明专利]静电放电测试装置和方法

摘要

本发明涉及一种程控装置和一种方法用于识别ESD和闩锁集成电路设计中或概念中的薄弱环节。所说的程控装置包括一个预处理器(10)，该处理器对第一数据(11)，第二数据(12)和第三数据(13)进行处理，其中第一数据有关集成电路的描述，第二数据(12)有关该集成电路已经过ESD表征的电路元件，第三数据包含有关ESD测试标准的信息。在该处理器的下游设置一个包括模拟器(19，20)的模拟器装置(3)。该模拟器利用由所述处理器产生的第四和第五数据对集成电路进行ESD模拟，所说的集成电路包括一个专用控制器(17)，用于控制在该模拟器中的ESD模拟运作。该装置最后还包括一个设置在所述模拟装置下游的分析装置(30)，该分析装置对于在模拟装置中产生的第六数据的物理有效性和可表达性进行评估，并将那些物理上已经过相关ESD故障事件表征的模拟运作予以标记。

主权项

1.用于识别ESD和/或闩锁集成电路设计中或概念中薄弱环节的程控装置，所述装置有一个预处理器，该处理器处理第一数据，第二数据和第三数据，其中第一数据有关该集成电路的描述，第二数据有关该集成电路已经过ESD表征的电路元件，第三数据包含有关ESD测试标准的信息，所述装置有一个连接在所述预处理器下游的模拟器装置，该模拟器装置有一个模拟器，该模拟器利用由预处理器产生的第四和第五数据对该集成电路进行ESD模拟，该模拟器装置有一个用于控制在该模拟器中ESD模拟顺序的监控器，所述装置有一个连接在所述模拟装置下游的分析装置，该分析装置对于在所述模拟装置中产生的第六数据关于它们的物理有效性和可表达性进行评估，并且，对那些物理上与ESD故障相关的事件的模拟过程予以标记。