[发明专利]片材剥离装置及剥离方法有效
申请号: | 200480030831.8 | 申请日: | 2004-10-21 |
公开(公告)号: | CN1871692A | 公开(公告)日: | 2006-11-29 |
发明(设计)人: | 辻本正树;吉冈孝久 | 申请(专利权)人: | 琳得科株式会社 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/68 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 何腾云 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供能够分别使用多个剥离机构与保护片材的材质、壁厚等的差异对应地在最适条件下进行剥离的片材剥离装置及剥离方法。本发明的片材剥离装置是使用宽度比片材(S)窄的粘结带(T)对贴附于半导体晶片(W)的面的片材(S)进行剥离的片材剥离装置(10)。该装置备有剥离头部(15)(第二剥离机构)和第一及第二辊(21、22)(第一剥离机构);所述剥离头部(15)(第二剥离机构),在将粘结带(T)粘结于上述片材的端部的状态下向钝角方向拉拽对片材(S)进行剥离;所述第一及第二辊(21、22)(第一剥离机构),在将粘结带(T)在横过片材(S)的方向上粘结的状态下,向相对缓和的剥离角度方向拉拽对片材(S)进行剥离。该剥离机构可根据片材(S)的种类选择其中任一种进行利用。 | ||
搜索关键词: | 剥离 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种片材剥离装置,所述片材剥离装置使用粘结带对贴附于板状部件的片材进行剥离,其特征在于:包括:可沿着上述片材的外面进行相对移动的第一辊,和配置于该第一辊附近且可与该第一辊一起进行相对移动的第二辊;上述第二辊位于与上述第一辊的剥离动作时的移动方向相反的一侧,同时,配置在相对于上述片材的面比第一辊离开得远的位置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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