[发明专利]测试装置无效

专利信息
申请号: 200480031777.9 申请日: 2004-11-26
公开(公告)号: CN1875283A 公开(公告)日: 2006-12-06
发明(设计)人: 稻叶健司;宫崎将司 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/319 分类号: G01R31/319;G01R31/28
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人: 高翔
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种测试装置,包括多个测试模块槽,用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中,包括:操作顺序保持件,用于保持指示这些测试模块中的第一测试模块在这些测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息;触发返回信号接收件,用于当第一测试模块之测试操作已完成,接收从第一测试模块来之触发返回信号,触发返回信号指示第一测试模块已完成其测试操作;以及触发信号提供件,用于当触发返回信号接收件接收触发返回信号,提供触发信号至第二测试模块,触发信号指示第二测试模块应开始其测试操作。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征是包括多个测试模块槽,用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中,包括:操作顺序保持件,用于保持指示上述多个测试模块中的第一测试模块在上述多个测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息;触发返回信号接收件,用于当该第一测试模块之测试操作已完成时,接收从该第一测试模块来之触发返回信号,该触发返回信号指示该第一测试模块已完成其测试操作;以及触发信号提供件,用于当该触发返回信号接收件接收该触发返回信号,提供触发信号至该第二测试模块,该触发信号指示该第二测试模块应开始其测试操作。
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