[发明专利]电子器件的制造方法和电子器件有效
申请号: | 200480032195.2 | 申请日: | 2004-10-26 |
公开(公告)号: | CN1874955A | 公开(公告)日: | 2006-12-06 |
发明(设计)人: | J·T·M·范比克;M·J·E·乌勒奈尔斯 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | B81B3/00 | 分类号: | B81B3/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王庆海;张志醒 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种微机电系统(MEMS)器件的制造方法,包括在衬底(14)上提供基层(10)和机械层(12),在基层(10)和机械层(12)之间提供牺牲层(16),在牺牲层(16)和衬底(14)之间提供蚀刻停止层(18),以及借助干法化学蚀刻去除牺牲层(16),其中利用含氟的等离子体进行干法化学蚀刻,并且该蚀刻停止层(18)包括基本上不导电的、氟化学剂惰性材料,如HfO2、ZrO2、Al2O3或TiO2。 | ||
搜索关键词: | 电子器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种包括微机电系统(MEMS)元件的电子器件的制造方法,该MEMS元件包括第一和第二电极,该第二电极可朝着第一电极移动和可从第一电极移动,其方法包括步骤:在衬底(14)的第一侧提供电绝缘材料的蚀刻停止层(18);在衬底(14)的第一侧提供导电材料的基层(10),在基层中限定了第一电极;提供牺牲层(16),其至少覆盖在基层(10)中的第一电极;在牺牲层(16)的顶部上提供导电材料的机械层(12),所述机械层(12)机械地连接至衬底(10);在机械层(12)的顶部上提供掩模(20),其包括到牺牲层(16)的至少一个窗口(21),以及借助干法化学蚀刻去除所述牺牲层(16)的选择区,以便第二电极可朝着第一电极移动和可从第一电极移动,其中使用含氟的等离子体进行所述干法化学蚀刻,且蚀刻停止层(18)包括基本上不导电的、氟化学剂惰性材料。
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