[发明专利]多光束光学扫描设备无效
| 申请号： | 200480032234.9 | 申请日： | 2004-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN1875411A | 公开（公告）日： | 2006-12-06 |
| 发明（设计）人： | A·M·范德李;C·布施 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/14 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 龚海军;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于从信息载体上读出或在信息载体上写入的光学扫描设备。所述光学扫描设备包括用于生成辐射光束的辐射源，用于将辐射光束分成多个辐射子光束的装置，用于将多个光点聚焦到所述信息载体上的聚焦装置，该信息载体用于将所述多个辐射子光束反射到检测支路，以及用于检测聚焦误差信号的聚焦误差检测装置。所述聚焦误差检测装置在所述检测支路上包括用于将反射辐射子光束聚焦到焦平面上的伺服透镜，用于将反射辐射子光束在焦平面处分离的空间滤光器，以及用于根据分离的辐射子光束检测聚焦误差信号的分裂检测器。该聚焦误差检测装置还包括用于确定是否能够将聚焦误差信号用于校正聚焦装置的位置的确定子装置。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 光学 扫描 设备 | ||
【主权项】：
1.一种光学扫描设备，包括：-用于生成辐射光束的辐射源，-用于将辐射光束分成多个辐射子光束的装置，-用于将多个辐射子光束聚焦到信息载体上的聚焦装置，该信息载体用于将所述多个辐射子光束反射到聚焦检测支路，-聚焦误差检测装置，其在所述聚焦检测支路上包括用于将所述多个反射辐射子光束聚焦到焦平面上的伺服透镜，用于将反射辐射子光束与焦平面处的所述多个反射辐射子光束分离的空间滤光器，以及用于根据所述分离的反射辐射子光束检测聚焦误差信号的检测器。
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