[发明专利]非接触工作的位置测量系统有效
申请号: | 200480033985.2 | 申请日: | 2004-10-28 |
公开(公告)号: | CN101341377A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
发明(设计)人: | F·蒙德尼科夫;M·瑟兰;E·休伯 | 申请(专利权)人: | 微-埃普西龙测量技术有限两合公司 |
主分类号: | G01D5/20 | 分类号: | G01D5/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 张政权 |
地址: | 德国奥*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及非接触位移测量系统,该系统包括可用交流电流来供电的测量线圈(1),所述测量线圈(1)具有至少两个电压抽头(7)。该系统还包括分配给传感器(2)的导电和/或导磁的测量物体(4)以及评定电路(3)。传感器(2)和测量物体(4)在测量线圈(1)的纵向方向可彼此相对移位。本发明的特征在于,测量物体(4)具有至少一个影响两个电压抽头(7)之间的测量线圈(1)的阻抗的标记(8),使得评定电路(3)可产生与待测物体(4)相对于电压抽头(7)的位置相关的输出信号(9)。 | ||
搜索关键词: | 接触 工作 位置 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.与传感器(2)不接触而工作的位置测量系统,包括可用交流电流来供给电流的测量线圈(1),其中测量线圈(1)包括至少两个电压抽头(7),带有分配给传感器(2)的导电和/或导磁的待测物体(4),并带有评定电路(3),其中传感器(2)和待测物体(4)在测量线圈(1)的纵向方向可彼此相对移位,其特征在于,待测物体(4)包括至少一个影响两个电压抽头(7)之间的测量线圈(1)的阻抗的标记(8),使得评定电路(3)可提供与待测物体(4)相对于电压抽头(7)的位置相关的输出信号(9)。
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