[发明专利]具备静电破坏保护元件的半导体装置无效

专利信息
申请号: 200480034979.9 申请日: 2004-11-29
公开(公告)号: CN1886834A 公开(公告)日: 2006-12-27
发明(设计)人: 小岛严;正垣年启;石川修 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L23/60
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体装置(1),具备:形成有集成电路(3、4)的半导体基板(2);电连接集成电路(3、4)与外部接地电极的第1连接端子(7)以及第2连接端子(8);电连接第1接地端子(7)和第2连接端子8的静电破坏保护元件(5)。第1接地端子(7),与半导体基板(2)电连接,第2接地端子(8)不与半导体基板(2)电连接。
搜索关键词: 具备 静电 破坏 保护 元件 半导体 装置
【主权项】:
1、一种具备静电破坏保护元件的半导体装置,具备:形成有集成电路的半导体基板;第1接地端子以及第2接地端子,其将所述集成电路与外部接地端子电连接;和静电破坏保护元件,其将所述第1接地端子与第2接地端子电连接,所述第1接地端子,与所述半导体基板电连接,所述第2接地端子不与所述半导体基板电连接。
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