[发明专利]地－信号－地(GSG)测试结构无效
| 申请号： | 200480035506.0 | 申请日： | 2004-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN1886665A | 公开（公告）日： | 2006-12-27 |
| 发明（设计）人： | D·M·斯米德 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28;H01L23/544 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于集成电路中的RF装置性能的生产测量的地－信号－地(GSG)测试结构，包括一对信号焊盘(S1，S2)和两对接地焊盘(G1a，G1b；G2a，G2b)。所有这六个焊盘(G1a，G2a，S1，S2，G1b，G2b)线性排列，由此该结构的宽度足够小，从而足以将该结构设置在晶片的狭窄锯齿通道内。 | ||
| 搜索关键词： | 信号 gsg 测试 结构 | ||
【主权项】：
1、一种用于集成电路中的RF装置性能的生产测量的地-信号-地(GSG)测试结构，包括一对信号焊盘(S1，S2)和两对接地焊盘(G1a，G2a；G1b，G2b)，其中所有所述的六个焊盘(G1a，G2a，S1，S2，G1b，G2b)线性排列。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200480035506.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
