[发明专利]传感器应用中的位点选择性标记和模板分子印记聚合物无效
| 申请号： | 200480036329.8 | 申请日： | 2004-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN101415487A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | F·V·布莱特 | 申请（专利权）人： | 纽约州立大学研究基金会 |
| 主分类号： | B01J20/26 | 分类号： | B01J20/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沙永生 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供用于检测分析物的分子印记聚合物(MIP)，形成MIP和用MIP检测分析物的方法。MIP包括使用分析物的模拟物形成的模板位点，以使报道分子化合物可选择地连接于模板位点，从而提供位点选择性标记和模板MIP。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 应用 中的 选择性 标记 模板 分子 印记 聚合物 | ||
【主权项】：
1. 一种用于检测分析物存在的分子印记聚合物，其包含：至少一个能够选择性结合所述分析物的模板位点，所述模板位点具有暴露的反应性基团，其中，暴露的反应性基团的数目超过选择性结合分析物所需的暴露的反应性基团的数目。
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