[发明专利]检测密封包装渗漏的方法无效
申请号: | 200480036392.1 | 申请日: | 2004-12-10 |
公开(公告)号: | CN1890546A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | M·R·黑文斯 | 申请(专利权)人: | 克里奥瓦克公司 |
主分类号: | G01M3/38 | 分类号: | G01M3/38;G01M3/22;G01N31/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘元金;段晓玲 |
地址: | 美国南卡*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及检测包装内渗漏的方法。该方法包含下列步骤:用包含下列各层的多层膜覆盖至少部分O2敏产品以制成包装:(i)渗漏-指示剂层,其中O2-敏指示剂遍存于整个渗漏-指示剂层;和(ii)O2-阻隔层,在渗漏-指示剂层外面;在包装内提供低O2环境。然后用含有被O2-敏指示剂吸收的波长的光照射渗漏-指示剂层,使O2-敏指示剂发光,其量反比于O2-敏指示剂中所存在的O2量。然后在O2-敏指示剂发光的同时扫描该多层膜,进行扫描的方法是检测并比较来自多层膜上至少2个不同区域的发光量。 | ||
搜索关键词: | 检测 密封 包装 渗漏 方法 | ||
【主权项】:
1.检测包装渗漏的方法,该方法包含:(A)用包含下列各层的多层膜覆盖至少部分O2-敏产品以制成包装:(i)渗漏-指示剂层,其中O2-敏指示剂存在于整个渗漏-指示剂层;和(ii)O2-阻隔层,在渗漏-指示剂层外面,(B)在包装内提供低O2环境;(C)用含有被O2-敏指示剂吸收的波长的光照射渗漏-指示剂层,使O2-敏指示剂发光,其量反比于O2-敏指示剂中所存在的O2量;以及(D)在O2-敏指示剂发光的同时扫描该多层膜,进行扫描的方法是检测并比较来自多层膜上至少2个不同区域的发光量。
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