[发明专利]延迟电路以及测试装置无效

专利信息
申请号: 200480037677.7 申请日: 2004-12-17
公开(公告)号: CN1894852A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 须田昌克;寒竹秀介 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: H03K5/13 分类号: H03K5/13;G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种延迟电路,其对应于所期望的延迟时间设定使输入信号延迟且输出,包括:延迟元件,其使该输入信号延迟一以所施加的供给电流为基准的延迟时间且输出该输入信号;电流供给部,其产生该供给电流;电压产生部,其产生一种对应于该延迟时间设定的基本电压;以及控制部,其使电流供给部产生供给电流,根据电流供给部的特性,使基本电压变换成控制电压,以供给至电流供给部。电流供给部具有所定的导电特性且具有第1MOS电晶体,其供给汲极电流至延迟元件以作为该供给电流。该控制部产生第1MOS电晶体在饱和区域动作时的第1控制电压,该第1控制电压可供给至第1MOS电晶体的闸极端。
搜索关键词: 延迟 电路 以及 测试 装置
【主权项】:
1.一种延迟电路,其对应于所期望的延迟时间设定使输入信号延迟且输出,其特征在于其包括:延迟元件,其使该输入信号延迟一段以所施加的供给电流为基准的时间且输出该输入信号;电流供给部,其产生该供给电流;电压产生部,其产生一种对应于该延迟时间设定的基本电压;以及控制部,其对应于电流供给部中应产生该供给电流的电流供给部的特性而使基本电压变换成控制电压,以供给至电流供给部。
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