[发明专利]各向异性导电性连接器和电路装置的检查方法无效
| 申请号： | 200480037736.0 | 申请日： | 2004-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN1894589A | 公开（公告）日： | 2007-01-10 |
| 发明（设计）人： | 山田大典;木村洁 | 申请（专利权）人： | JSR株式会社 |
| 主分类号： | G01R1/06 | 分类号： | G01R1/06 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供用于诸如具有焊料突起电极的半导体集成电路的电路装置的检查的具有良好的重复使用耐久性的各向异性导电性连接器和具有良好的检查效率的电路装置的检查方法。在上述各向异性导电性连接器的表面上涂敷了润滑剂。通过使用至少在与待检查的电路装置接触的一侧的表面上在进行上述电路装置的检查之前涂敷了润滑剂的上述各向异性导电性连接器将检查用电路基板电连接到待检查的电路装置上。 | ||
| 搜索关键词： | 各向异性 导电性 连接器 电路 装置 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种各向异性导电性连接器，用于电连接具有与作为检查对象的电路装置的被检查电极对应配置的检查用电极的检查用电路基板与作为检查对象的电路装置，其特征在于：至少在所述各向异性导电性连接器的与作为检查对象的电路装置接触一侧的表面上涂敷了润滑剂。
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