[发明专利]高能ESD结构和方法有效

专利信息
申请号: 200480037827.4 申请日: 2004-11-26
公开(公告)号: CN1894794A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 彼得·J.·赞德贝尔;迪安·M.·陶 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种同心环ESD结构(10)包括在一层半导体材料(27)中形成的第一p型区域(16)和第二p型区域(19)。两个p型区域(16,19)使用浮动n型隐埋层(26)耦连在一起。第一和第二p型区域(16,19)与浮动n型隐埋层(26)一起形成背对背二极管结构。一对短接的n型(167,197)和p型(166,196)接触区域在第一和第二区域(16,19)的每个中形成。绝缘区域(17,32)在第一和第二p型区域(16,19)之间形成。
搜索关键词: 高能 esd 结构 方法
【主权项】:
1.一种半导体ESD结构,包括:具有第一导电型的半导体衬底,其包括具有第二导电型和第一掺杂浓度的第一区域;在第一区域中形成、具有第二导电型的隐埋区域;在第一区域中形成并接触隐埋层、具有第一导电型的第二区域;在第一区域中形成并接触隐埋层、具有第一导电型的第三区域;在第二和第三区域之间的第一区域中形成的第一绝缘区域;在第二区域中形成的第一对相反掺杂区域;以及在第三区域中形成的第二对相反掺杂区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于半导体元件工业有限责任公司,未经半导体元件工业有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480037827.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top