[发明专利]熔融材料的分析方法与装置及浸没式传感器无效
申请号: | 200480038122.4 | 申请日: | 2004-12-15 |
公开(公告)号: | CN1898553A | 公开(公告)日: | 2007-01-17 |
发明(设计)人: | 雅克·普勒塞尔;维托里诺·蒂塞特;马尔克·希恩斯 | 申请(专利权)人: | 贺利氏电子耐特国际股份公司 |
主分类号: | G01N21/69 | 分类号: | G01N21/69;G01N21/85;C21C5/46 |
代理公司: | 上海新高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 楼仙英 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 比利时;BE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 利用光学发射光谱法分析熔融材料的方法和装置,例如熔融金属,如铸铁或钢,或炉渣,玻璃,或熔岩。所用的一个传感元件包括至少一个发射分光计,至少一个激发装置,以便实现激发被分析材料,并且能够使一辐射束形成部分或全部的辐射,该辐射通过传感元件中的分光计进行分析。将上述传感元件放进被分析的熔融材料中并与其相接触,上述传感元件所传送的信息包含了由分光计提供的分析要素。本发明同时还涉及一种浸没式传感器。 | ||
搜索关键词: | 熔融 材料 分析 方法 装置 浸没 传感器 | ||
【主权项】:
1.通过光学发射光谱测定法,对熔点温度300℃以上最好是500℃以上的熔融材料进行分析研究的方法,在上述方法中使用一个所谓的“传感元件”,所述的传感元件包括至少一个发射分光计,其特征在于,一个传感元件配备至少一个激发装置,用于实现被分析材料的激发,并且能够使一辐射束形成部分或全部的辐射,以便通过上述传感元件中的分光计进行分析;将上述传感元件放进被分析材料中,并与被分析材料接触;将一个分析信号读出,所述信号通过上述传感元件发出,所述信号发出时间介于传感元件接触被分析熔融材料,和传感元件在上述材料中熔化销毁的时间段内,另外所传送的分析信号包含传感元件中的分光计所产生的分析要素;以及从上述传送的分析信号中,不管直接读出还是日后再处理,至少可以得出被分析材料成分的部分化学元素。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贺利氏电子耐特国际股份公司,未经贺利氏电子耐特国际股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480038122.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:双模显示器
- 下一篇:用于治疗癌症的4-(吡唑-3-基氨基)嘧啶衍生物