[发明专利]熔融材料的分析方法与装置及浸没式传感器无效

专利信息
申请号: 200480038122.4 申请日: 2004-12-15
公开(公告)号: CN1898553A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: 雅克·普勒塞尔;维托里诺·蒂塞特;马尔克·希恩斯 申请(专利权)人: 贺利氏电子耐特国际股份公司
主分类号: G01N21/69 分类号: G01N21/69;G01N21/85;C21C5/46
代理公司: 上海新高专利商标代理有限公司 代理人: 楼仙英
地址: 比利时*** 国省代码: 比利时;BE
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摘要: 利用光学发射光谱法分析熔融材料的方法和装置,例如熔融金属,如铸铁或钢,或炉渣,玻璃,或熔岩。所用的一个传感元件包括至少一个发射分光计,至少一个激发装置,以便实现激发被分析材料,并且能够使一辐射束形成部分或全部的辐射,该辐射通过传感元件中的分光计进行分析。将上述传感元件放进被分析的熔融材料中并与其相接触,上述传感元件所传送的信息包含了由分光计提供的分析要素。本发明同时还涉及一种浸没式传感器。
搜索关键词: 熔融 材料 分析 方法 装置 浸没 传感器
【主权项】:
1.通过光学发射光谱测定法,对熔点温度300℃以上最好是500℃以上的熔融材料进行分析研究的方法,在上述方法中使用一个所谓的“传感元件”,所述的传感元件包括至少一个发射分光计,其特征在于,一个传感元件配备至少一个激发装置,用于实现被分析材料的激发,并且能够使一辐射束形成部分或全部的辐射,以便通过上述传感元件中的分光计进行分析;将上述传感元件放进被分析材料中,并与被分析材料接触;将一个分析信号读出,所述信号通过上述传感元件发出,所述信号发出时间介于传感元件接触被分析熔融材料,和传感元件在上述材料中熔化销毁的时间段内,另外所传送的分析信号包含传感元件中的分光计所产生的分析要素;以及从上述传送的分析信号中,不管直接读出还是日后再处理,至少可以得出被分析材料成分的部分化学元素。
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