[发明专利]用于校准质谱仪(MS)与其它仪器系统和用于处理MS与其它数据的方法有效

专利信息
申请号: 200480038243.9 申请日: 2004-10-20
公开(公告)号: CN1898674A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: Y·王;M·古 申请(专利权)人: 瑟诺生物科学有限责任公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G06F15/00;G01N3/00;G01N21/00;G01N21/01;G01N23/00;G01R35/00;C12Q1/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;梁永
地址: 美国康*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于得到用于校准质谱(MS)仪系统的至少一个校准滤波器的方法。对于给定的校准标准,得到在质谱范围中的测量的同位素峰集群数据。对于给定的校准标准计算出相对同位素丰度和相应于该丰度的同位素的实际的质量位置。规定处在各个质谱范围内的中心的质谱目标峰形状函数。在计算出的相对同位素丰度与质谱目标峰形状函数之间执行卷积运算,以形成计算的同位素峰集群数据。在测量的同位素峰集群数据与在卷积运算后计算的同位素峰集群数据之间执行去卷积运算,以得到该至少一个校准滤波器。为归一化峰宽度、组合内部和外部校准、以及使用选择的测量峰作为标准采取措施。该方法的各个方面适用于其它分析仪器。
搜索关键词: 用于 校准 质谱仪 ms 其它 仪器 系统 处理 数据 方法
【主权项】:
1.一种为了得到用于校准质谱(MS)仪系统的至少一个校准滤波器的方法,包括以下步骤:对于给定的校准标准,得到在质谱范围中测量的同位素峰集群数据;对于给定的校准标准,计算相对同位素丰度和相应于该丰度的同位素的实际的质量位置;规定质谱目标峰形状函数;在计算的相对同位素丰度与质谱目标峰形状函数之间执行卷积运算,以形成计算出的同位素峰集群数据;以及在测量的同位素峰集群数据与在卷积运算后计算出的同位素峰集群数据之间执行去卷积运算,以得到至少一个校准滤波器。
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