[发明专利]用于确定参考电压的方法、电路和系统

摘要

本发明是一种用于确定参考电压的方法、电路和系统。本发明的一些实施例涉及用于建立一组将用于操作(例如读取)NVM块或阵列中的单元的操作参考单元的系统、方法和电路。作为本发明的一部分，可以使用两组或多组测试参考单元中的每一个来读取NVM块或阵列中的单元的至少一个子集，其中每一组测试参考单元可以产生或者提供至少稍微偏离于每一个其他测试参考单元组的参考电压。对于用于读取NVM块的至少一个子集的每一组测试参考单元，可以计算或者确定读取误差率。可以选择与相对低的读取误差率相关的一组测试参考单元作为将用于操作(例如读取)NVM块或阵列中的所述单元子集之外的其他单元的操作参考单元组。在另一实施例中，所选择的测试参考单元组可以用于建立操作参考单元组，其具有基本上等于所选择的测试组的参考电压的参考电压。

主权项

1、一种从一组可能的参考电平选择参考电平的方法，包括：使用所述可能的参考电平中的每一个来从存储区域中读取一组单元；为所述可能的参考电平中的每一个确定与所述单元组的读取相关的读取误差率；并且从所述可能的参考电平组中选择读取误差率相对低的参考电平。