[发明专利]延迟故障测试电路以及相关方法无效
| 申请号： | 200480039163.5 | 申请日： | 2004-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN1902502A | 公开（公告）日： | 2007-01-24 |
| 发明（设计）人： | A·米塔尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供一种延迟故障测试电路，该延迟故障测试电路用于响应于与将要测试的被设置为以不同速度运行的逻辑电路相关联的两个相应不同频率时钟信号来产生两时钟脉冲序列，并且被如此设置使得时钟脉冲中第二个的上升沿被对准，并且该电路进一步包括：计数装置，用于产生参考计数值，用于在所述计数值达到第一阈值时开始该两个时钟脉冲中第一个时钟脉冲的装置，用于在所述计数值达到第二阈值时结束该两个时钟脉冲中第一个时钟脉冲的装置，用于在所述计数值达到第三阈值时开始该两个时钟脉冲中第二个时钟脉冲的装置，用于在所述计数值达到第四阈值时结束该两个时钟脉冲中第二个时钟脉冲的装置，其中第三阈值对于两个输入时钟信号是公共的，而第一、第二和第四阈值基于时钟信号各自的频率。 | ||
| 搜索关键词： | 延迟 故障测试 电路 以及 相关 方法 | ||
【主权项】：
1.延迟故障测试电路，用于响应于与被设置为以不同速度运行的逻辑电路相关联的不同频率的两个相应时钟信号来产生两时钟脉冲序列，并且被如此设置使得时钟脉冲中第二个的上升沿被对准，该电路包括：计数装置，用于产生参考计数值；用于在所述计数值达到第一阈值时开始该两个时钟脉冲中第一个时钟脉冲的装置；用于在所述计数值达到第二阈值时结束该两个时钟脉冲中第一个时钟脉冲的装置；用于在所述计数值达到第三阈值时开始该两个时钟脉冲中第二个时钟脉冲的装置；用于在所述计数值达到第四阈值时结束该两个时钟脉冲中第二个时钟脉冲的装置；其中第三阈值对于两个输入时钟信号是公共的，而第一、第二和第四阈值基于时钟信号各自的频率。
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