[发明专利]晶体边缘效应的处理有效

专利信息
申请号: 200480039967.5 申请日: 2004-11-22
公开(公告)号: CN1993632A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: 杰克·E·朱尼 申请(专利权)人: 杰克·E·朱尼
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用在辐射成像设备中的闪烁器,有发光面,辐射接收面,在发光面和辐射接收面之间延伸的周界,周界包括边缘,边缘有边缘厚度。闪烁器响应辐射接收面上的辐射入射从发光面发射闪烁光。闪烁器有一个或多个在闪烁器紧邻边缘的外围区域内形成的光导。这些光导可以提高包含闪烁器辐射成像设备的定位精确度。
搜索关键词: 晶体 边缘 效应 处理
【主权项】:
1.一种辐射探测器,包括:闪烁器,该闪烁器有发光面,辐射接收面,和在发光面与辐射接收面之间延伸的周界,周界包括边缘,边缘有边缘厚度;闪烁器响应入射到辐射接收面上的辐射从发光面发出闪烁光;闪烁器有紧邻边缘的外围区域;闪烁器包括只在外围区域中形成的光导;光导可以用来在部分闪烁光从发光面发出之前使该部分闪烁光转向;由此提高辐射探测器的定位精确度。
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