[发明专利]半导体装置的模块结构无效
申请号: | 200480040580.1 | 申请日: | 2004-11-30 |
公开(公告)号: | CN1906766A | 公开(公告)日: | 2007-01-31 |
发明(设计)人: | 北村谦二;谷高真一;远藤陆男;富永雄二郎;田中俊秀;佐藤浩一郎 | 申请(专利权)人: | 本田技研工业株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L23/48 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的半导体模块,由具有动作部(1)和护圈部(12)的半导体元件(13),和设置在该半导体元件的上面以及下面,并对该半导体元件进行冷却的上下的散热部件(15、14)构成。钝化膜(20),覆盖护圈部,但不覆盖动作部。上部散热部(15),由与所述钝化膜非接触地连接在动作部上的金属平板构成。上部散热部和下部散热部(14)可热传导地被连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 模块 结构 | ||
【主权项】:
1、一种半导体装置的模块结构,具备:第1导电型的高电阻层;第2导电型的基极层,其形成在所述第1导电型的高电阻层的上部;第1导电型的发射极区域,其形成在所述第2导电型的基极层的上部;发射极电极,其与所述发射极区域连接;栅极电极,其与所述第2导电型的基极层相邻且被绝缘;护圈部,加深包括所述发射极区域的单元区域周围的扩散;钝化膜,其形成在所述护圈部的上部,且未覆盖在所述单元区域的上部;第2导电型的集电极层,其被形成在所述第1导电型的缓冲层的下面;集电极电极,其与所述集电极层连接;以及金属平板的上部散热部,其以与所述钝化膜非接触的高度,与所述发射极电极连接。
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