[发明专利]随机数发生方法和半导体集成电路器件无效
| 申请号： | 200480041636.5 | 申请日： | 2004-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN1922570A | 公开（公告）日： | 2007-02-28 |
| 发明（设计）人： | 村中雅也 | 申请（专利权）人： | 日立超大规模集成电路系统株式会社 |
| 主分类号： | G06F7/58 | 分类号： | G06F7/58 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 季向冈 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路器件，包括多个单位电路和信号变化检测电路，所述单位电路包括：以彼此相同的制造过程作为相同形态形成的第一和第二逻辑电路、将叠加在所述第一逻辑电路和第二逻辑电路的阈值电压的差电压上的噪声放大并形成2值信号的放大电路；所述信号变化检测电路，响应从所述多个单位电路输出的多个2值信号中的任意一个信号的变化，形成输出信号，该器件将多个从所述信号变化检测电路输出的2值信号进行组合发生随机数。 | ||
| 搜索关键词： | 随机数 发生 方法 半导体 集成电路 器件 | ||
【主权项】：
1.一种随机数发生方法，其特征在于：使用多个单位电路和信号变化检测电路，组合多个从所述信号变化检测电路输出的2值信号，发生随机数，其中，所述单位电路包括：由以彼此相同的制造过程作为相同形态形成的第一逻辑电路和第二逻辑电路、将叠加在所述第一逻辑电路和第二逻辑电路的阈值电压的差电压上的噪声放大并形成2值信号的放大电路，所述信号变化检测电路，响应从所述多个单位电路输出的多个2值信号中的任意一个信号的变化，形成输出信号。
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