[发明专利]用于生产含SiO2的芯片用绝缘层的硅化合物无效
申请号: | 200480041912.8 | 申请日: | 2004-12-22 |
公开(公告)号: | CN1918323A | 公开(公告)日: | 2007-02-21 |
发明(设计)人: | E·米;H·劳勒德;H·克莱因;J·蒙基维茨;I·萨沃普洛斯 | 申请(专利权)人: | 德古萨公司 |
主分类号: | C23C16/40 | 分类号: | C23C16/40;B05D1/40;H01L21/312 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吕彩霞;李连涛 |
地址: | 德国杜*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种制备含SiO2的芯片用绝缘层以及用于该目的的特定前体的应用。本发明还涉及可以这种方式获得的绝缘层,以及用这种绝缘层获得的芯片。 | ||
搜索关键词: | 用于 生产 sio sub 芯片 绝缘 化合物 | ||
【主权项】:
1.一种生产含SiO2的芯片用绝缘层的方法。其中至少一种下述硅化合物被用作前体:乙烯基硅烷,烷基烷氧基硅烷,烷基芳基烷氧基硅烷,芳基烷氧基硅烷,C1-和C3-C5-烷基原硅酸酯,具有乙二醇基团的原硅酸酯,具有聚醚基团的原硅酸酯,氢烷氧基硅烷,氢芳氧基硅烷,烷基氢硅烷,烷基氢烷氧基硅烷,二烷基氢烷氧基硅烷,芳基氢硅烷,芳基氢烷氧基硅烷,乙酰氧基硅烷,硅氮烷,硅氧烷,具有至少一个乙酰氧基、叠氮基、氨基、氰基、氰氧基、异氰酸根合或酮肟根合基的有机官能硅烷,含至少一个杂环的有机官能硅烷,其中硅原子可位于杂环本身上或与杂环共价键合,至少上述两种硅化合物的混合物,以及四乙氧基硅烷与至少上述一种硅化合物的混合物。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
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