[发明专利]纳米晶体金刚石薄膜、其制造方法及使用纳米晶体金刚石薄膜的装置无效

专利信息
申请号: 200480043161.3 申请日: 2004-05-27
公开(公告)号: CN1957116A 公开(公告)日: 2007-05-02
发明(设计)人: 蒲生秀典;安藤寿浩 申请(专利权)人: 凸版印刷株式会社;独立行政法人物质·材料研究机构
主分类号: C30B29/04 分类号: C30B29/04;C30B25/02;C23C16/27
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 程大军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种在基体上合成的纳米晶体金刚石薄膜,该薄膜包含晶粒直径为1nm~小于1000nm的纳米晶体金刚石作为其主要成分。可以使用含有烃和氢的原料气体通过等离子体CVD方法在基体上形成纳米晶体金刚石薄膜,使纳米晶体金刚石薄膜的形成发生在等离子体区域的外面。该纳米晶体金刚石薄膜可用于制造电化学器件、电化学电极、DNA芯片、有机场致发光器件、有机光电接收器件、有机薄膜晶体管、冷电子发射器件、燃料电池和催化剂。
搜索关键词: 纳米 晶体 金刚石 薄膜 制造 方法 使用 装置
【主权项】:
1.一种纳米晶体金刚石薄膜,该薄膜是在基体上合成的,并包含晶粒直径为1nm~小于1000nm的纳米晶体金刚石作为主要成分。
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