[发明专利]非易失性存储装置以及用于该存储装置的擦除方法有效

专利信息
申请号: 200480043810.X 申请日: 2004-08-30
公开(公告)号: CN101023497A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 田冈英穗;铃村嘉裕;平野幹児;川本悟 申请(专利权)人: 斯班逊有限公司;斯班逊日本有限公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在擦除步骤过程期间,预编程操作(S1)之后,擦除操作(S3)以及APDE操作(S5)通过APDE检查操作(S6:P)而执行与确认,且由擦除检查操作的确认(S7:P)而完成,步骤A在多个存储单元的软编程操作(S10)之前执行。继续执行一种仿存储单元编程操作(S8),直到仿存储单元编程检查操作(S9)确认编程操作已完成。通过在仿存储单元的程序操作的执行,通过位线施加相似于程序操作的电压应力于过擦除态的存储单元上。因此,释放过擦除态藉以降低行漏出电流。在软编程检查操作(S11)期间,可以阻止错误识别,也可以避免过度软编程。
搜索关键词: 非易失性 存储 装置 以及 用于 擦除 方法
【主权项】:
1.一种非易失性存储装置的数据擦除方法,通过预定数目的数据输入/输出端子而连接多个电性可重写存储单元至该非易失性存储装置,该数据擦除方法包括以下步骤:在多个存储单元上执行擦除操作;以及在擦除操作后,施加与编程操作有关的偏压到数据输入/输出端子,而不对特定存储单元连续执行编程操作。
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