[发明专利]运送检查装置及运送装置无效

专利信息
申请号: 200480043824.1 申请日: 2004-08-27
公开(公告)号: CN101010580A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 生方玉也;传宝莱;矢口正広 申请(专利权)人: 筑波精工株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;B65G49/06
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种可在运送中进行缺陷检查的运送检查装置,还提供一种即使运送对象物为透明材料也可在非接触状态的运送中进行缺陷检查的运送检查装置。该运送检查装置包括控制向电极面施加的电压并以非接触状态运送薄形构件5的运送装置2、在运送中对前述薄形构件5的缺陷进行检查的缺陷检查装置3。在运送装置2中,在电极面的一部分上设置用于透过光线的光线透过部如缺口部15为佳。借由利用该光线透过部15设置缺陷检查装置3,即使运送对象物为透明材料,也可在非接触状态的运送中进行缺陷检查。
搜索关键词: 运送 检查 装置
【主权项】:
1、一种运送检查装置,其特征在于包括:具有电极面的运送装置,该运送装置控制向该电极面施加的电压且以非接触状态运送薄形构件;以及在运送中对该薄形构件的缺陷进行检查的缺陷检查装置。
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