[发明专利]高精度零交叉检测器及其方法有效
| 申请号： | 200480044268.X | 申请日： | 2004-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN101044679A | 公开（公告）日： | 2007-09-26 |
| 发明（设计）人： | 艾勃德塞思曼·勃雅德恩 | 申请（专利权）人： | 半导体元件工业有限责任公司 |
| 主分类号： | H03K5/1536 | 分类号： | H03K5/1536;G01R19/175;H03F1/30;H02M3/156 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国亚*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在一个实施例中，零交叉检测器并联连接多个比较器以及在不同时段运行比较器的至少一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 交叉 检测器 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种零交叉检测方法，包括：接收感测信号；连接第一比较器作为第一放大器，在第一时段的至少部分中将所述第一放大器的输出存储在第一存储元件；在第二时段的至少部分中，连接所述第一比较器作为比较器，并将所述感测信号连接至所述第一存储元件；连接第二比较器作为第二放大器，在所述第二时段的所述部分中将所述第二放大器的输出存储在第二存储元件；以及在所述第一时段中，连接所述第二比较器作为比较器，并将所述感测信号连接至所述第二存储元件。
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