[发明专利]紫外线辐射测量方法及紫外线测量设备无效
| 申请号： | 200510001601.5 | 申请日： | 2005-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN1690727A | 公开（公告）日： | 2005-11-02 |
| 发明（设计）人： | 八木茂 | 申请（专利权）人： | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 紫外线辐射测量方法及紫外线测量设备。一种使用紫外光敏元件的紫外线测量方法包括：利用紫外光敏元件在一太阳高度角下测量紫外线强度；以及通过使用与太阳高度角对应的转换系数来将测量到的强度转换为特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，由此来确定所述特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，其中所述转换系数是至少太阳高度角的函数。一种使用具有对特定波长范围的光谱灵敏度的紫外光敏元件的紫外线测量方法包括：利用所述紫外光敏元件测量紫外线强度；以及根据任意时间点的太阳高度角信息修正测量到的紫外线强度，以预测所述时间点处的紫外线强度。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外线 辐射 测量方法 测量 设备 | ||
【主权项】：
1、一种使用紫外光敏元件的紫外线测量方法，包括以下步骤：利用所述紫外光敏元件在一太阳高度角下测量紫外线强度；以及通过使用与所述太阳高度角相对应的转换系数来将所测量到的强度转换为特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或响应指数，由此来确定所述特定紫外线波长范围内的积分紫外线强度或所述响应指数，其中所述转换系数是至少太阳高度角的函数。
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