[发明专利]电路板测试装置无效
| 申请号： | 200510002837.0 | 申请日： | 2005-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN1811462A | 公开（公告）日： | 2006-08-02 |
| 发明（设计）人： | 黄羽立 | 申请（专利权）人： | 照敏企业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 董惠石 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路板测试装置，包含：一基板，其具有多个电性导通孔及连接器插孔；一连接器，插设于基板的连接器插孔；一针板组，跨置于基板上，其具有复数层上下堆叠复合而成的板体，板体间以连接柱穿设固定，该板体上具有多个相通的贯穿孔，而测试探针插设在复数个贯穿孔中；如上述所述，测试前先将该针板组跨置于基板上，使针板组的测试探针与基板的电性导通孔相对应，当欲测试时，测试人员将待测电路板置于针板组上，并对其待测电路板向下施力，间接使测试探针向下位移，而顶抵电性导通孔，而可将信号通过连接器传送至测试机台，而达到快速测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电路板测试装置，其特征在于，包含：一基板，具有多个电性导通孔及连接器插孔；一针板组，跨置于基板上，由多层板体上下堆叠复合而成，该板体上具有多个相通的贯穿孔，而测试探针插设在所述贯穿孔中。
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