[发明专利]扫描测试电路无效
| 申请号： | 200510003453.0 | 申请日： | 2005-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN1808159A | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | 小石川悟;渡边正 | 申请（专利权）人： | 三洋电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在扫描测试电路中，移位动作时的时钟周期比捕获动作时的时钟周期短。例如，将移位动作时的时钟周期设定为20纳秒，而将捕获动作时的时钟周期设定为100纳秒。在这里，虽然时钟经由时钟端子CLK从LSI的外部的LSI测试器被提供，但是时钟的周期也可在LSI测试器侧与扫描使能信号(SCANEN)的变化同步地切换。根据本发明，能够缩小移位动作所占用的时间，并能够实现缩短扫描测试所需要的时间。从而，缩短扫描测试电路所需要的时间并降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 测试 电路 | ||
【主权项】：
1、一种扫描测试电路，包括：多个逻辑电路；和对应各逻辑电路配置的多个扫描触发器电路，所述扫描触发器电路，在扫描使能信号为第一电平时构成移位寄存器，并进行按照时钟的移位动作，在所述扫描使能信号为第二电平时，根据所述时钟进行获得所述逻辑电路的输出数据的捕获动作，其中所述移位动作时的时钟周期比捕获动作时的时钟周期短。
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