[发明专利]线圈节段选择方法和磁共振成像装置无效

专利信息
申请号: 200510003555.2 申请日: 2005-12-22
公开(公告)号: CN1792325A 公开(公告)日: 2006-06-28
发明(设计)人: 奈部谷章;野崎敦 申请(专利权)人: GE医疗系统环球技术有限公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;G01R33/34;G01R33/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;张志醒
地址: 美国威*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 为了可视、容易和肯定地进行最适合MRI扫描的线圈节段和线圈节段(300)组合的选择,可以执行以下步骤:低分辨率成像步骤,用于利用多个线圈节段(300)A到H以低分辨率成像;成像线圈节段选择步骤,用于从在低分辨率成像步骤中获取的多个低分辨率图像中选择对成像部位最佳的线圈节段;以及线圈节段提取步骤,用于提取在成像线圈节段选择步骤中选择的线圈节段,这样最初获取物体(190)的低分辨率图像,然后用它们来可视地选择线圈节段。
搜索关键词: 线圈 选择 方法 磁共振 成像 装置
【主权项】:
1.磁共振成像装置(100)的线圈节段选择方法,所述磁共振成像装置(100)用于通过安装在物体(190)上的并嵌入有多个线圈节段(300)的相控阵线圈,根据从物体(190)成像部位发出的磁共振信号,来产生磁共振图像,所述方法包括:线圈节段选择步骤,用于通过所述多个线圈节段(300)中的任何线圈节段来选择具有就所述物体(190)的待成像部位来说最适合的成像灵敏度的线圈节段,其中所述线圈节段选择步骤包括:低分辨率成像步骤,用于利用所述多个线圈节段(300)以低分辨率成像;成像线圈节段选择步骤,用于根据在所述低分辨率成像步骤中获取的多个低分辨率图像来选择对所述待成像部位最适合的成像线圈节段;以及线圈节段提取步骤,用于提取在所述成像线圈节段选择步骤中选择的线圈节段。
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