[发明专利]使用存储器仿真模块的嵌入式微计算机单元及其测试方法有效

专利信息
申请号: 200510003973.1 申请日: 2005-01-05
公开(公告)号: CN1637716A 公开(公告)日: 2005-07-13
发明(设计)人: 朴镇权 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邸万奎;黄小临
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种利用存储器仿真模块的嵌入式微计算机单元(MCU)和一种测试该嵌入式MCU的方法。该嵌入式MCU包含:内部存储器,连接到总线主控器设备,用于存储来自总线主控器设备的临时数据和测试模式下的测试向量;存储器控制器,用于在处理器内核运行时,存取内部存储器或外部存储器;和存储器仿真模块,连接在存储器控制器与内部存储器之间,用于在测试模式下,将测试向量存储到内部存储器中。
搜索关键词: 使用 存储器 仿真 模块 嵌入 式微 计算机 单元 及其 测试 方法
【主权项】:
1.一种嵌入式微计算机单元(MCU),包含:内部存储器,用于存储来自外部设备的测试向量;存储器控制器,用于控制所述内部存储器;和存储器仿真模块,用于在测试模式下,将测试向量存储到内部存储器中。
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