[发明专利]检测光盘片瑕疵区块的方法有效
| 申请号： | 200510004202.4 | 申请日： | 2005-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN1641786A | 公开（公告）日： | 2005-07-20 |
| 发明（设计）人： | 蔡金印;陈仕芳;赖义麟 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B7/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 文琦;陈肖梅 |
| 地址： | 台湾省台北县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种在可记录与复制的系统中，侦测一光盘片的瑕疵区块的方法，特别是当资料写录于该光盘片时检测光盘片瑕疵区块的方法。本发明的检测光盘片瑕疵区块的方法包含：比较一ATIP信号与该ATIP信号的载波ATFM信号以得到该两信号之差；若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定缺陷时间范围内维持着比一特定缺陷临界值为高的准位，则一晃动缺陷旗标信号被设置为一第一逻辑状态。相反的，若该ATIP信号与该ATFM信号之差在一特定正常时间范围内维持着比一特定正常临界值为低的准位，则该晃动缺陷旗标信号被清除为一第二逻辑状态。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 盘片 瑕疵 区块 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在可纪录与复制的系统中，侦测一光盘片的瑕疵区块的方法，其特征是，包含：接收一第一参考信号；接收一第二参考信号；比较该第一参考信号与该第二参考信号；以及若该第一参考信号与该第二参考信号之差在一特定时间内维持着比一特定临界值高的准位，则一第三参考信号被设置为一第一逻辑状态；其中该第二参考信号为该第一参考信号的载波。
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